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日本 HAYASHI-REPIC近紅外線光源裝置
更新日期:2026-05-28
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廠商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商
生產(chǎn)地址:日本
1.日本 HAYASHI-REPIC近紅外線光源裝置 產(chǎn)品核心設(shè)計(jì)與性能優(yōu)勢(shì)
純凈近紅外輸出,零可見(jiàn)光干擾:內(nèi)置 IR80 濾光片 + 近紅外反射鏡組合,可阻隔 800nm 以下的可見(jiàn)光,僅輸出 800~1100nm 區(qū)間的近紅外光,肉眼觀測(cè)無(wú)光亮,避免雜散光對(duì)檢測(cè)、實(shí)驗(yàn)的干擾,是真正意義上的 “隱形光源",適配需要無(wú)可見(jiàn)光環(huán)境的精密檢測(cè)場(chǎng)景;
高穩(wěn)定性長(zhǎng)壽命光源,適配長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)運(yùn)行:標(biāo)配 JCR12V100W10H/IR 鹵素?zé)簦骄鶋勖_(dá) 1000 小時(shí);光源無(wú)頻閃,輸出光強(qiáng)穩(wěn)定,可 24 小時(shí)連續(xù)運(yùn)行,適配工業(yè)產(chǎn)線長(zhǎng)時(shí)間檢測(cè)的使用需求;
寬電壓適配與智能連續(xù)調(diào)光,適配全場(chǎng)景需求:額定輸入電壓支持 AC100-120V/200-240V±10%,適配全球供電標(biāo)準(zhǔn);具備 2%~100% 連續(xù)調(diào)光功能,可根據(jù)不同檢測(cè)距離、材質(zhì)特性靈活調(diào)節(jié)光強(qiáng),適配不同場(chǎng)景的照明需求;
工業(yè)級(jí)緊湊耐用設(shè)計(jì),適配復(fù)雜使用環(huán)境:采用強(qiáng)制風(fēng)冷散熱結(jié)構(gòu),設(shè)備尺寸小巧,滿載功耗僅 130W,機(jī)身結(jié)構(gòu)堅(jiān)固,可適配工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)的震動(dòng)、溫差、多粉塵等復(fù)雜環(huán)境,同時(shí)也適合實(shí)驗(yàn)室的精密使用需求。
2. 日本 HAYASHI-REPIC近紅外線光源裝置 核心技術(shù)參數(shù)表
| 項(xiàng)目 | 詳細(xì)參數(shù) |
|---|---|
| 產(chǎn)品型號(hào) | LA-100IR |
| 光源類(lèi)型 | 12V 鹵素?zé)簦◣Ыt外反射鏡) |
| 輸出波長(zhǎng)范圍 | 800~1100nm(近紅外) |
| 輸入電壓 | AC100-120V / 200-240V ±10%,50/60Hz |
| 額定功耗 | 130W(100W 燈最大負(fù)載時(shí)) |
| 調(diào)光范圍 | 2%~100%(連續(xù)可調(diào)) |
| 冷卻方式 | 強(qiáng)制風(fēng)冷 |
| 工作溫度 | 0~40℃ |
| 燈泡平均壽命 | 約 1000 小時(shí) |
| 適配光纖接口 | 標(biāo)準(zhǔn)光纖耦合接口(適配工業(yè)通用光纖) |
| 機(jī)身材質(zhì) | 工業(yè)級(jí)金屬外殼 |
3. 日本 HAYASHI-REPIC LA-100IR 近紅外線光源裝置 典型應(yīng)用場(chǎng)景
工業(yè)機(jī)器視覺(jué)行業(yè):透明 / 半透明物體的缺陷檢測(cè)(如塑料瓶、玻璃制品、薄膜、亞克力件),近紅外光可穿透可見(jiàn)光無(wú)法透過(guò)的材質(zhì),實(shí)現(xiàn)內(nèi)部裂紋、氣泡、雜質(zhì)等缺陷的精準(zhǔn)識(shí)別;
半導(dǎo)體行業(yè):晶圓 / 芯片的內(nèi)部缺陷檢測(cè)、硅片裂紋識(shí)別、半導(dǎo)體封裝缺陷檢測(cè),適配半導(dǎo)體產(chǎn)線的高精度檢測(cè)需求;
食品 / 藥品檢測(cè)行業(yè):包裝內(nèi)異物檢測(cè)(如金屬、玻璃、塑料雜質(zhì)),近紅外光可穿透食品、藥品的外包裝材料,實(shí)現(xiàn)非接觸式、無(wú)損傷的異物識(shí)別,適配食品藥品行業(yè)的合規(guī)檢測(cè)需求;
科研實(shí)驗(yàn)室場(chǎng)景:近紅外光譜分析、材料光學(xué)特性研究、生物醫(yī)學(xué)成像、植物生理研究等,為科研實(shí)驗(yàn)提供穩(wěn)定、純凈的近紅外照明;
其他場(chǎng)景:安防監(jiān)控紅外夜視輔助、工業(yè)無(wú)損檢測(cè)、文物鑒定、紅外成像校準(zhǔn)等需要近紅外照明的領(lǐng)域。






