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顯微型二維雙折射相位差測量儀
更新日期：2026-04-10
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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：日本
一、產(chǎn)品概述
二、核心性能特點
高分辨率全場測量：搭載約 500 萬像素傳感器，可在顯微視野下實現(xiàn)樣品全域同步檢測，無需逐點掃描，兼顧檢測精度與效率。
精準測量能力：針對 0~130nm 低相位差樣品優(yōu)化，測量分辨率可達 0.001nm，相位差 > 10nm 時軸方位精度 < 0.1°，可精準捕捉微小應力分布。
靈活適配性：可搭載奧林巴斯、尼康等主流品牌商用顯微鏡，兼容現(xiàn)有實驗室設備，也可選擇僅測量相機頭的 PA-micro-S 款，適配不同使用需求。
專業(yè)分析功能：配套 PA-View 專用分析軟件，支持實時相位差 / 應力分布云圖可視化、相位軸方位計算、檢測報告自動生成，滿足多維度數(shù)據(jù)分析需求。
非接觸式檢測：采用光學測量原理，對樣品無損傷，可直接檢測成品、半成品，不影響樣品后續(xù)使用。
三、技術參數(shù)表
| 參數(shù)項 | 指標詳情 |
|---|---|
| 測量波長 | 520nm（單波長測量） |
| 相位差測量范圍 | 0 ~ 130nm |
| 測量分辨率 | 0.001nm |
| 測量重復精度 | <1nm（西格瑪） |
| 軸方位精度 | <0.1°（相位差> 10nm 時） |
| 傳感器像素 | 2056×2464（約 500 萬像素） |
| 基礎視野尺寸 | 142×170μm（可通過物鏡倍率調(diào)整） |
| 輸出項目 | 相位差 (nm)、相位軸方位 (°)，可選配應力值換算 (MPa) |
| 適配顯微鏡 | 奧林巴斯、尼康等主流商用顯微鏡 |
四、日本 Photonic Lattice 顯微型二維雙折射相位差測量儀PA-micro 適用場景
光學玻璃 / 鏡片：檢測玻璃內(nèi)部應力、透鏡成型殘留應力、光學均勻性
透明樹脂 / 塑料：注塑成型件內(nèi)部應力分布、脫模影響評估
光學薄膜：薄膜相位差不均勻性、應力分布檢測
晶體 / 晶片：晶體雙折射、內(nèi)部缺陷、應力狀態(tài)分析
微小透明樣品：光纖、微結(jié)構器件、生物透明樣本等顯微級檢測
鋼化玻璃：強化玻璃應力分布、加工后狀態(tài)評估
五、型號說明
PA-micro：完整套裝，含品牌商用顯微鏡 + 測量相機頭，開箱即可使用，適合實驗室、質(zhì)檢部門直接采購。
PA-micro-S：僅測量相機頭，不含顯微鏡，需用戶自行搭配兼容顯微鏡，適合已有顯微鏡的用戶，降低采購成本。
六、包裝與使用說明
標準包裝：測量相機頭、顯微鏡（PA-micro 款）、臺式電腦、PA-View 軟件授權、操作說明書、配套線纜。
使用環(huán)境：建議在穩(wěn)定溫濕度、無振動、無強光干擾的實驗室環(huán)境下使用，以保障測量精度。
操作流程：樣品放置→視野對焦→一鍵測量→軟件分析→報告導出，操作流程簡潔，降低使用門檻。
